Real-Time, In Situ Degradation Monitoring in Power Semiconductor Converters

IEEE (2019) [Buchbeitrag, Beitrag zu einem Tagungsband]

2019 IEEE Applied Power Electronics Conference and Exposition (APEC)
Seite(n): 2720-2727

Autorinnen und Autoren

Ausgewählte Autorinnen und Autoren

Polom, Timothy A.
van der Broeck, Christoph
De Doncker, Rik W.
Lorenz, Robert D.

Identifikationsnummern